Описание структроскопа ВЭ-26НП
Структуроскоп ВЭ-26НП предназначен для неразрушающего контроля качества изделий из немагнитных сплавов на основе алюминия или меди при помощи измерения их удельной электрической проводимости.
ПРИМЕНЕНИЕ ВЭ-26НП
Сортировка изделий по удельной электрической проводимости или ее приращению относительно некоторого базового значения и контроль различных механических характеристик электропроводящих неферромагнитных материалов при наличии экспериментально установленных корреляционных связей между удельной электропроводимостью и этими характеристиками.
Встроенный термометр позволяет учесть влияние температуры окружающей среды и повысить точность измерения.
Память сохраняет 4096 измерений для последующей передачи на ПК.
Технические характеристики
| 
 Диапазон измерений абсолютного значения удельной электрической проводимости, МСм/м 
 | 
 5...60 
 | 
| 
 Диапазон измерений приращений удельной электрической проводимости, МСм/м 
 | 
 9,99...+9,99 
 | 
| 
 Предел допускаемой основной относительной погрешности измерений, %, не более  
 | 
 — в диапазоне измерений от 5 до 40 МСм/м 2 
— в диапазоне измерений от 40 до 60 МСм/м 3 
 | 
| 
 Допустимый зазор между преобразователем и поверхностью контролируемого изделия, мм, не более 
 | 
 0,25 
 | 
| 
 Индикация результатов измерений 
 | 
 цифровая 
 | 
| 
 Электропитание 
 | 
 от батареи типа РРЗ, В 9 
 | 
| 
 Потребляемая мощность, мВт, не более 
 | 
 40 
 | 
| 
 Диапазон рабочих температур, ?С 
 | 
 5...40 
 | 
| 
 Габариты, мм 
 | 
 157 х 84 х 30 
 | 
| 
 Масса, г 
 | 
 270 ± 20 
 |